एलपीसी13823x एमसीयू के लिए एएन60730 आईईसी 553 क्लास बी सॉफ्टवेयर
उपयोगकर्ता गाइड

एलपीसी13823x एमसीयू के लिए एएन60730 आईईसी 553 क्लास बी सॉफ्टवेयर

रेव. 0 - 4 जनवरी 2023
आवेदन पत्र
दस्तावेज़ जानकारी

जानकारी	सामग्री
कीवर्ड	एलपीसी553एक्स, एएन13823, आईईसी 60730, एलपीसी5536-ईवीके, आईईसी60730बी
अमूर्त	इस एप्लिकेशन नोट का मुख्य उद्देश्य LPC553x MCUs पर आधारित उत्पादों के लिए ग्राहक सॉफ्टवेयर विकास और प्रमाणन प्रक्रियाओं में तेजी लाना है।

परिचय

IEC 60730 सुरक्षा मानक परीक्षण और निदान विधियों को परिभाषित करता है जो घरेलू उपकरणों के लिए एम्बेडेड नियंत्रण हार्डवेयर और सॉफ़्टवेयर के सुरक्षित संचालन को सुनिश्चित करता है।
कार्यात्मक सुरक्षा प्राप्त करने के लिए, सिस्टम की खराबी के कारण होने वाले खतरों के सभी जोखिमों को दूर करना आवश्यक है।
आईईसी 60730 मानक लागू उपकरणों को तीन श्रेणियों में वर्गीकृत करता है:

• कक्षा ए: उपकरण की सुरक्षा के लिए भरोसा करने का इरादा नहीं है
• कक्षा बी: नियंत्रित उपकरणों के असुरक्षित संचालन को रोकने के लिए
• कक्षा सी: विशेष खतरों को रोकने के लिए

एनएक्सपी बड़े उपकरण बाजार में स्वत: नियंत्रण के निर्माताओं को आईईसी 60730 वर्ग बी विनियमन को पूरा करने में मदद करने के लिए आईईसी 60730 सुरक्षा वर्ग बी पुस्तकालय प्रदान करता है। पुस्तकालय IAR, Keil और MCUXpresso IDEs का समर्थन करता है।
आप अपने एप्लिकेशन सॉफ़्टवेयर में NXP सुरक्षा लाइब्रेरी बाइनरी को एकीकृत कर सकते हैं। IEC60730B एप्लिकेशन के आसान विकास के लिए, पुस्तकालय एक पूर्व भी प्रदान करता हैampले परियोजना। यह पूर्वampएल के माध्यम से वितरित किया जाता है IEC 60730 घरेलू उपकरणों के लिए सुरक्षा मानक  on एनएक्सपी.कॉम webसाइट।इस एप्लिकेशन नोट का मुख्य उद्देश्य LPC553x MCUs पर आधारित उत्पादों के लिए ग्राहक सॉफ्टवेयर विकास और प्रमाणन प्रक्रियाओं में तेजी लाना है।

एनएक्सपी आईईसी 60730 क्लास बी लाइब्रेरी खत्मview

सुरक्षा पुस्तकालय में नीचे सूचीबद्ध के रूप में कोर-निर्भर भाग और परिधीय-निर्भर भाग स्व-परीक्षण शामिल हैं:

• कोर-निर्भर भाग
  - सीपीयू रजिस्टर टेस्ट
  - सीपीयू प्रोग्राम काउंटर टेस्ट
  - परिवर्तनीय स्मृति परीक्षण
  - अचल स्मृति परीक्षण
  - ढेर परीक्षण
• परिधीय-आश्रित भाग
  -घड़ी परीक्षण
  - डिजिटल इनपुट/आउटपुट टेस्ट
  - एनालॉग इनपुट/आउटपुट टेस्ट
  - प्रहरी परीक्षण

तालिका 1. IEC 60730 क्लास B मानकों का अनुपालन

एनएक्सपी आईईसी 60730 क्लास बी लाइब्रेरी		आईईसी 60730
अवयव	तरीका	सामान	लागू
सीपीयू रजिस्टर	सीपीयू रजिस्टर परीक्षण प्रक्रिया अटकी हुई स्थिति के लिए सभी सीएम33 सीपीयू रजिस्टरों का परीक्षण करती है।	1.1 रजिस्टर	2.16.6
कार्यक्रम गणक	सीपीयू प्रोग्राम काउंटर टेस्ट प्रक्रिया अटकी हुई स्थिति के लिए सीपीयू प्रोग्राम काउंटर रजिस्टर का परीक्षण करती है। MCU रीसेट के बाद और रनटाइम के दौरान भी प्रोग्राम काउंटर रजिस्टर टेस्ट एक बार किया जा सकता है। प्रोग्राम काउंटर कार्यक्षमता को सत्यापित करने के लिए पैटर्न का परीक्षण करने वाले संबंधित पते तक पहुंचने के लिए सीपीयू (प्रोग्राम फ्लो) को बाध्य करें।	1.3 कार्यक्रम काउंटर	2.16.6
घड़ी	घड़ी परीक्षण प्रक्रिया गलत आवृत्ति के लिए प्रोसेसर के दोलक का परीक्षण करती है। घड़ी परीक्षण सिद्धांत दो स्वतंत्र घड़ी स्रोतों की तुलना पर आधारित है। यदि परीक्षण दिनचर्या घड़ी स्रोतों के बीच आवृत्ति अनुपात में परिवर्तन का पता लगाती है, तो एक विफलता त्रुटि कोड वापस आ जाता है।	3.घड़ी	NA
अचल स्मृति	अचल मेमोरी टेस्ट यह जांचने के लिए है कि एप्लिकेशन निष्पादन के दौरान मेमोरी सामग्री (ऑन-चिप फ्लैश) में कोई बदलाव हुआ है या नहीं। कई चेकसम तरीके (उदाहरण के लिएample, CRC16) का उपयोग इस उद्देश्य के लिए किया जा सकता है।	4.1 अचल स्मृति	2.19.3.1
परिवर्तनीय स्मृति परीक्षण	डीसी दोषों के लिए ऑन-चिप रैम की जाँच करता है। मार्च सी और मार्च एक्स योजनाओं को नियंत्रण तंत्र के रूप में उपयोग किया जाता है।	4.2 परिवर्तनीय स्मृति	2.19.6
डिजिटल इनपुट/आउटपुट टेस्ट	डीआईओ परीक्षण कार्यों को परीक्षण किए गए पिन और आपूर्ति वॉल्यूम के बीच डिजिटल इनपुट और आउटपुट कार्यक्षमता और शॉर्ट सर्किट स्थितियों की जांच के लिए डिज़ाइन किया गया है।tagई, जमीन, या वैकल्पिक आसन्न पिन।	7.1 डिजिटल आई/ओ	2.18.13
एनालॉग इनपुट/आउटपुट (I/0) परीक्षण	परीक्षण एनालॉग इनपुट इंटरफ़ेस और तीन संदर्भ मानों की जाँच करता है: संदर्भ उच्च, संदर्भ निम्न और बैंडगैप वॉल्यूमtagइ। एनालॉग इनपुट टेस्ट ज्ञात वॉल्यूम के साथ तीन एनालॉग इनपुट के रूपांतरण पर आधारित हैtagई मान और यह जाँचता है कि परिवर्तित मान निर्दिष्ट सीमा में फिट होते हैं या नहीं। आम तौर पर, सीमाएं वांछित संदर्भ मूल्यों के आसपास लगभग 10% होनी चाहिए।	7.2 एनालॉग I/O	2.18.13

एनएक्सपी आईईसी 60730 कक्षा बी पुस्तकालय पूर्वampले प्रोजेक्ट

IEC60730B एप्लिकेशन के आसान विकास के लिए, पुस्तकालय एक पूर्व प्रदान करता हैample प्रोजेक्ट फ्रेमवर्क, एक समर्पित LPC553x मूल्यांकन बोर्ड पर बनाया गया है  NXP.com में साइन इन करें एनएक्सपी सेमीकंडक्टर (एलपीसी5536-ईवीके)। आपको वास्तविक प्रोजेक्ट के लिए सही लाइब्रेरी सेटिंग्स को कॉन्फ़िगर करना होगा।3.1 उपयोगकर्ता एप्लिकेशन में सुरक्षा पुस्तकालय का एकीकरण
सुरक्षा पूर्वample प्रोजेक्ट रूटीन को दो मुख्य प्रक्रियाओं में विभाजित किया गया है: प्री-रन वन टाइम सेफ्टी टेस्ट और रनटाइम पीरियोडिकल सेफ्टी टेस्ट।
निम्नलिखित आंकड़ा सुरक्षा परीक्षण प्रक्रियाओं को दर्शाता है।एनएक्सपी सुरक्षा पुस्तकालय को एकीकृत करने के लिए, निम्न चरणों का पालन करें:

1. सुरक्षा पूर्व डाउनलोड करेंampnxp.com से ली परियोजना
2. सुरक्षा स्व-परीक्षण के लिए उपयोग किए जाने वाले बाह्य उपकरणों पर विचार करते हुए हार्डवेयर सेटिंग
3. सुरक्षा लाइब्रेरी को वास्तविक हार्डवेयर डिज़ाइन के अनुसार कॉन्फ़िगर करें
4. सुरक्षा परीक्षण कार्यों को एक-एक करके security_config.h में चालू करें
   • डिबगिंग के लिए, पहले फ्लैश टेस्ट और वॉचडॉग को बंद करना बेहतर होगा
   • व्यवधानों का ध्यान रखें, क्योंकि कुछ सुरक्षा परीक्षणों को बाधित नहीं किया जा सकता है
5. सुरक्षा पूर्व के आधार पर एप्लिकेशन कोड विकसित करेंampले परियोजना रूपरेखा

LPC553x सुरक्षा पुस्तकालय पूर्वample व्यवहार में परियोजना

4.1 हार्डवेयर ब्लॉक आरेख
निम्नलिखित मॉड्यूल डिफ़ॉल्ट रूप से सुरक्षा स्व-परीक्षण के लिए उपयोग किए जाते हैं जैसा कि नीचे दिए गए चित्र में दिखाया गया है:तालिका 2. सुरक्षा स्व-परीक्षण के लिए एमसीयू मॉड्यूल

सुरक्षा पुस्तकालय परीक्षण आइटम	एमसीयू मॉड्यूल
सीपीयू परीक्षण	LPC5536 CM33 कोर
घड़ी परीक्षण	सिस्टिक सीटीआईएमईआर0
प्रहरी परीक्षण	निगरानी सीटीआईएमईआर0
परिवर्तनीय स्मृति परीक्षण	एसआरएएम
अपरिवर्तनीय स्मृति परीक्षण	चमक
डिजिटल आई/ओ परीक्षण	जीपीआईओ ०
एनालॉग I/O परीक्षण	एडीसी0

4.2 सीपीयू परीक्षण
4.2.1 सीपीयू परीक्षण विवरण पंजीकृत करता है
सीपीयू रजिस्टर परीक्षण प्रक्रिया सभी CM33 सीपीयू रजिस्टरों की अटकी स्थिति के लिए परीक्षण करती है (प्रोग्राम काउंटर रजिस्टर को छोड़कर)। प्रोग्राम काउंटर टेस्ट को स्टैंडअलोन सेफ्टी रूटीन के रूप में लागू किया गया है। परीक्षणों के इस सेट में निम्नलिखित रजिस्टरों का परीक्षण शामिल है:

• सामान्य प्रयोजन रजिस्टर:
  – R0-R12
• ढेर सूचक रजिस्टर:
  – MSP + MSPLIM (सुरक्षित / गैर-सुरक्षित)
  - PSP + PSPLIM (सुरक्षित / गैर-सुरक्षित)
• विशेष रजिस्टर:
  - एपीएसआर
  - नियंत्रण (सुरक्षित / गैर-सुरक्षित)
  - प्रिमास्क (सुरक्षित / गैर-सुरक्षित)
  - फॉल्टमास्क (सुरक्षित / गैर-सुरक्षित)
  – बसपरी (सुरक्षित / गैर-सुरक्षित)
• लिंक रजिस्टर:
  - एलआर
• एफपीयू रजिस्टर:
  - एफपीएससीआर
  – एस0 – एस31

MCU के रीसेट होने के बाद और रनटाइम के दौरान एक बार किए जाने वाले परीक्षणों का एक सेट होता है। आप LPC553x सुरक्षा लाइब्रेरी पूर्व की डिफ़ॉल्ट सेटिंग्स का पुन: उपयोग कर सकते हैंampहालाँकि, आपको रुकावट पर ध्यान देना चाहिए क्योंकि कुछ सीपीयू रजिस्टर परीक्षण बाधित नहीं हो सकते।

• प्री-रन वन टाइम सेफ्टी टेस्ट
  – SafetyCpuAfterResetTest /* व्यवधान कुछ समय के लिए अक्षम होना चाहिए */
  - FS_CM33_CPU_Register
  - FS_CM33_CPU_NonStackedRegister
  – FS_CM33_CPU_SPmain_S
  – FS_CM33_CPU_SPmain_Limit_S
  - एफएस_सीएम33_सीपीयू_एसपीप्रोसेस_एस
  – FS_CM33_CPU_SPprocess_Limit_S
  - FS_CM33_CPU_प्राइमास्क_S
  - FS_FAIL_CPU_PRIMASK
  - FS_CM33_CPU_Special8PriorityLevels_S
  - एफएस_सीएम33_सीपीयू_कंट्रोल
  - FS_CM33_CPU_Float1
  - FS_CM33_CPU_Float2
• रनटाइम आवधिक सुरक्षा परीक्षण
  – SafetyCpuBackgroundTest /* इंटरप्टिबल CPU रजिस्टर टेस्ट */
  - FS_CM33_CPU_Register
  - FS_CM33_CPU_NonStackedRegister
  – FS_CM33_CPU_Control /* व्यवधान कुछ समय के लिए अक्षम होना चाहिए */
  – FS_CM33_CPU_SPprocess_S /* व्यवधान कुछ समय के लिए अक्षम होना चाहिए */

4.3 सीपीयू प्रोग्राम काउंटर टेस्ट
4.3.1 सीपीयू प्रोग्राम काउंटर टेस्ट विवरण
सीपीयू प्रोग्राम काउंटर रजिस्टर टेस्ट प्रक्रिया सीपीयू प्रोग्राम काउंटर रजिस्टर का अटकी हुई स्थिति के लिए परीक्षण करती है। अन्य सीपीयू रजिस्टरों के विपरीत, प्रोग्राम काउंटर को केवल एक परीक्षण पैटर्न से नहीं भरा जा सकता है। प्रोग्राम काउंटर कार्यक्षमता को सत्यापित करने के लिए पैटर्न का परीक्षण करने वाले संबंधित पते तक पहुंचने के लिए सीपीयू (प्रोग्राम फ्लो) को मजबूर करना आवश्यक है।
ध्यान दें कि प्रोग्राम काउंटर टेस्ट को बाधित नहीं किया जा सकता है।MCU रीसेट होने के बाद और रनटाइम के दौरान भी प्रोग्राम काउंटर रजिस्टर टेस्ट एक बार किया जा सकता है।

• प्री-रन वन टाइम सेफ्टी टेस्ट
  - सुरक्षा पीसी टेस्ट
  - एफएस_सीएम33_पीसी_टेस्ट
• रनटाइम आवधिक सुरक्षा परीक्षण
  - सेफ्टीआईएसआरफंक्शन> सेफ्टीपीसीटेस्ट
  - एफएस_सीएम33_पीसी_टेस्ट

4.4 परिवर्तनीय स्मृति परीक्षण
4.4.1 परिवर्तनीय स्मृति परीक्षण विवरण
समर्थित उपकरणों के लिए परिवर्तनीय स्मृति परीक्षण डीसी दोषों के लिए ऑन-चिप रैम की जांच करता है।
एप्लिकेशन स्टैक क्षेत्र का भी परीक्षण किया जा सकता है। मार्च सी और मार्च एक्स योजनाओं को नियंत्रण तंत्र के रूप में उपयोग किया जाता है।आफ्टर-रीसेट टेस्ट और रनटाइम टेस्ट के लिए हैंडलिंग फंक्शन अलग-अलग हैं।
आफ्टर-रीसेट टेस्ट FS_CM33_RAM_AfterReset () फंक्शन द्वारा किया जाता है। इस फ़ंक्शन को रीसेट के बाद एक बार कॉल किया जाता है, जब निष्पादन समय महत्वपूर्ण नहीं होता है। बैकअप क्षेत्र के लिए फ्री मेमोरी स्पेस रिजर्व करें। ब्लॉक आकार पैरामीटर बैकअप क्षेत्र के आकार से बड़ा नहीं हो सकता। फ़ंक्शन पहले बैकअप क्षेत्र की जांच करता है, फिर लूप शुरू होता है। मेमोरी के ब्लॉक को बैकअप क्षेत्र में कॉपी किया जाता है और संबंधित मार्च टेस्ट द्वारा उनके स्थानों की जांच की जाती है। डेटा को मूल मेमोरी क्षेत्र में वापस कॉपी किया जाता है और ब्लॉक आकार के साथ वास्तविक पता अपडेट किया जाता है। यह तब तक दोहराया जाता है जब तक कि स्मृति के अंतिम ब्लॉक का परीक्षण नहीं हो जाता। यदि डीसी दोष का पता चलता है, तो फ़ंक्शन एक विफलता पैटर्न लौटाता है।
रनटाइम परीक्षण FS_CM33_RAM_Runtime () फ़ंक्शन द्वारा किया जाता है। समय बचाने के लिए, यह समय पर SRAM के केवल एक खंड (RAM_TEST_BLOCK_SIZE द्वारा परिभाषित) का परीक्षण करता है। जबकि आफ्टर-रीसेट टेस्ट सुरक्षा से संबंधित रैम स्पेस के पूरे ब्लॉक की जांच करता है। LPC553x सुरक्षा पुस्तकालय पूर्व मेंample प्रोजेक्ट, RAM_TEST_BLOCK_SIZE को 0x4 में कॉन्फ़िगर किया गया है, इसका मतलब है कि 32 बाइट्स RAM का परीक्षण एक रनटाइम RAM टेस्ट रूटीन में किया जाएगा।

• प्री-रन वन टाइम सेफ्टी टेस्ट
  – SafetyRamAfterResetTest /* मुख्य रूटीन चलाने से पहले “.safety_ram” अनुभाग के संपूर्ण RAM स्थान का परीक्षण करें। */
  - FS_CM33_RAM_AfterReset
• रनटाइम आवधिक सुरक्षा परीक्षण
  – SafetyIsrFunction(&g_sSafetyCommon, &g_sSafetyRamTest, &g_sSafetyRamStackTest) /* सिस्टिक ISR में निष्पादित, बाधित नहीं किया जा सकता */
  - FS_CM33_RAM_रनटाइम

4.4.2 चर स्मृति परीक्षण विन्यास
में चर स्मृति परीक्षण का विन्यास :सुरक्षा रैम ब्लॉक का विन्यास अंदर है :
संरेखण = 8 के साथ ब्लॉक SAFETY_RAM_BLOCK को परिभाषित करें
{सेक्शन। सुरक्षा_राम};
RAM_region {ब्लॉक SAFETY_RAM_BLOCK} में जगह;
ध्यान दें कि केवल .safety_ram वेरिएबल मेमोरी टेस्ट द्वारा कवर किया गया है। मैन्युअल रूप से .safety_ram अनुभाग में चर जोड़ें, जैसा कि main.c में नीचे दिखाया गया है।4.5 अचल स्मृति परीक्षण
4.5.1 अचल स्मृति परीक्षण विवरण
LPC5536 MCU पर अचल मेमोरी ऑन-चिप फ्लैश है। अपरिवर्तनीय मेमोरी टेस्ट का सिद्धांत यह जांचना है कि एप्लिकेशन निष्पादन के दौरान मेमोरी सामग्री में कोई बदलाव आया है या नहीं। इस उद्देश्य के लिए कई चेकसम विधियों का उपयोग किया जा सकता है। चेकसम एक एल्गोरिथ्म है जो परीक्षण की गई मेमोरी में रखे गए डेटा के हस्ताक्षर की गणना करता है। इस मेमोरी ब्लॉक के हस्ताक्षर की समय-समय पर गणना की जाती है और मूल हस्ताक्षर के साथ तुलना की जाती है।
असाइन की गई मेमोरी के लिए हस्ताक्षर की गणना किसी एप्लिकेशन के लिंकिंग चरण में की जाती है। हस्ताक्षर को अपरिवर्तनीय स्मृति में सहेजा जाना चाहिए, लेकिन चेकसम की गणना के मुकाबले एक अलग क्षेत्र में। रनटाइम में और रीसेट के बाद, चेकसम की गणना करने के लिए एक ही एल्गोरिथ्म को एप्लिकेशन में लागू किया जाना चाहिए। परिणामों की तुलना की जाती है। यदि वे बराबर नहीं हैं, तो सुरक्षा त्रुटि स्थिति उत्पन्न होती है।
जब रीसेट के बाद कार्यान्वित किया जाता है या जब निष्पादन समय पर कोई प्रतिबंध नहीं होता है, तो फ़ंक्शन कॉल निम्नानुसार हो सकती है।
• प्री-रन वन टाइम सेफ्टी टेस्ट
- सेफ्टीफ्लैश आफ्टररीसेटटेस्ट
– FS_FLASH_C_HW16_K /* पूरे फ्लैश के सीआरसी की गणना करें */
एप्लिकेशन रनटाइम में और निष्पादन के लिए सीमित समय के साथ, CRC की गणना एक क्रम में की जाती है। इसका मतलब है कि रीसेट के बाद कॉल करने की तुलना में इनपुट पैरामीटर के अलग-अलग अर्थ हैं। कार्यान्वयन पूर्वampले इस प्रकार है:
• रनटाइम आवधिक सुरक्षा परीक्षण
- सेफ्टीफ्लैशरनटाइम टेस्ट
– FS_FLASH_C_HW16_K /* ब्लॉक द्वारा CRC ब्लॉक की गणना करें */
- SafetyFlashTestHandling /* सभी फ़्लैश ब्लॉक की गणना होने पर CRC की तुलना करें। */
4.5.2 अचल स्मृति परीक्षण विन्यास
LPC553x सुरक्षा पुस्तकालय पूर्व मेंample परियोजना, लिंकर में निर्दिष्ट के रूप में फ्लैश आवंटन नीचे दिखाया गया है file . जो वस्तु fileएस और सुरक्षा फ्लैश ब्लॉक में रखा जाता है जिसे अपरिवर्तनीय स्मृति परीक्षण द्वारा जांचा जाता है। आप और वस्तु रख सकते हैं fileलिंकर को संशोधित करके SAFETY_FLASH_BLOCK फ़्लैश क्षेत्र में प्रवेश करें file इसलिए।दिए गए फ्लैश स्पेस की सामग्री को संशोधित किया गया है या नहीं, यह सत्यापित करने के लिए एमसीयू रनटाइम के दौरान तुलना करने के लिए दो चेकसम हैं:

• संकलन/लिंकिंग पर लिंकर द्वारा चेकसम की गणना
• चेकसम की गणना एमसीयू द्वारा रनटाइम पर की जाती है

चेकसम परिणाम रखने के लिए स्थान की परिभाषा (लिंकर टूल्स द्वारा पूर्व-गणना) में है :
परिभाषित प्रतीक __FlashCRC_start__ = 0x0300; / * चेकसम रखने के लिए * /
परिभाषित प्रतीक __FlashCRC_end__ = 0x030F; / * चेकसम रखने के लिए * /
परिभाषित क्षेत्र CRC_region = मेम: [__FlashCRC_start__ से __FlashCRC_end__ तक];
संरेखण = 8 {अनुभाग के साथ ब्लॉक चेकसम को परिभाषित करें। चेकसम}; CRC_region {ब्लॉक CHECKSUM} में जगह;
उदाहरण के लिए IAR IDE को लेंample, प्रोजेक्ट विकल्प सेटिंग में > क्रियाएँ बनाएँ > पोस्ट-बिल्ड कमांड लाइन।कमांड लाइन:
ielftool – 0xFF भरें;
लिंकर _checksumStart से c_checksumEnd तक फ्लैश एड्रेसिंग के मूल चेकसम की गणना करता है, फिर चेकसम परिणाम को _checksum में रखता है, जो लिंकर द्वारा परिभाषित चेकसम ब्लॉक में है file.
जाँचे जाने वाले निर्दिष्ट फ़्लैश स्थान की परिभाषा में है :
एलाइनमेंट = 8 के साथ ब्लॉक SAFETY_FLASH_BLOCK को परिभाषित करें, निश्चित क्रम {रीडओनली सेक्शन चेकसम_स्टार्ट_मार्क, सेक्शन .टेक्स्ट ऑब्जेक्ट मेन.ओ, सेक्शन .टेक्स्ट ऑब्जेक्ट सेफ्टी_सीएम33_एलपीसी.ओ, सेक्शन .रोडाटा ऑब्जेक्ट सेफ्टी_सीएम33_एलपीसी.ओ, रीडओनली सेक्शन चेकसम_एंड_मार्क};
ROM_region {ब्लॉक SAFETY_FLASH_BLOCK} में जगह;
4.6 ढेर परीक्षण
4.6.1 ढेर परीक्षण विवरण
स्टैक परीक्षण एक अतिरिक्त परीक्षण है, जिसे सीधे IEC60730 अनुलग्नक H तालिका में निर्दिष्ट नहीं किया गया है।
इस परीक्षण रूटीन का उपयोग एप्लिकेशन स्टैक के अतिप्रवाह और अंडरफ्लो स्थितियों का परीक्षण करने के लिए किया जाता है। स्टैक के कब्जे वाले मेमोरी क्षेत्र में अटके हुए दोषों का परीक्षण चर मेमोरी टेस्ट द्वारा कवर किया गया है। स्टैक का ओवरफ्लो या अंडरफ्लो हो सकता है यदि स्टैक को गलत तरीके से नियंत्रित किया जाता है या दिए गए एप्लिकेशन के लिए "बहुत कम" स्टैक क्षेत्र को परिभाषित किया जाता है।
परीक्षण का सिद्धांत एक ज्ञात पैटर्न के साथ स्टैक के नीचे और ऊपर के क्षेत्र को भरना है। इन क्षेत्रों को लिंकर कॉन्फ़िगरेशन में परिभाषित किया जाना चाहिए file, ढेर के साथ। इनिशियलाइज़ेशन फंक्शन तब इन क्षेत्रों को आपके पैटर्न से भर देता है। पैटर्न में ऐसा मान होना चाहिए जो एप्लिकेशन में कहीं और दिखाई न दे। उद्देश्य यह जांचना है कि इन क्षेत्रों में सटीक पैटर्न अभी भी लिखा गया है या नहीं। यदि ऐसा नहीं है, तो यह गलत स्टैक व्यवहार का संकेत है। यदि ऐसा होता है, तो परीक्षण फ़ंक्शन से विफल वापसी मान को सुरक्षा त्रुटि के रूप में संसाधित किया जाना चाहिए।परीक्षण रीसेट के बाद और एप्लिकेशन रनटाइम के दौरान उसी तरह किया जाता है।

• प्री-रन वन टाइम सेफ्टी टेस्ट
  - सेफ्टीस्टैकटेस्टइनिट
  – FS_CM33_STACK_Init /* STACK_TEST_BLOCK पर STACK_TEST_PATTERN (0x77777777) लिखें */
  - सेफ्टीस्टैक टेस्ट
  - FS_CM33_STACK_Test /* STACK_TEST_BLOCK की सामग्री की जाँच करें, यदि मान STACK_TEST_PATTERN (0x77777777) के बराबर नहीं है तो विफल रहा।
• रनटाइम आवधिक सुरक्षा परीक्षण
  - सेफ्टीस्टैक टेस्ट
  – FS_CM33_STACK_Init /* STACK_TEST_BLOCK पर STACK_TEST_PATTERN (0x77777777) लिखें */
  - सेफ्टीस्टैक टेस्ट
  - FS_CM33_STACK_Test /* STACK_TEST_BLOCK की सामग्री जांचें, यदि मान STACK_TEST_PATTERN (0x77777777) के बराबर नहीं है तो विफल रहता है

4.6.2 ढेर परीक्षण विन्यास
स्टैक टेस्ट का कॉन्फ़िगरेशन अंदर है और लिंकर file 4.7 क्लॉक टेस्ट
4.7.1 क्लॉक टेस्ट विवरण
घड़ी परीक्षण सिद्धांत दो स्वतंत्र घड़ी स्रोतों की तुलना पर आधारित है।
LPC553x सुरक्षा पुस्तकालय पूर्व मेंample परियोजना, CTIMER0 और Systick on MCU LPC5536 का उपयोग सुरक्षा घड़ी परीक्षण के लिए दो स्वतंत्र घड़ियों के रूप में किया जाता है, वे LPC5536-EVK हार्डवेयर बोर्ड पर निर्भर नहीं हैं।
क्लॉक टेस्ट रुटीन को रनटाइम आवधिक सुरक्षा परीक्षण में ही निष्पादित किया जाता है।

• प्री-रन वन टाइम सेफ्टी टेस्ट
  - कोई घड़ी परीक्षण नहीं
• रनटाइम आवधिक सुरक्षा परीक्षण
  - सेफ्टीक्लॉकटेस्टचेक
  - सेफ्टीक्लॉक टेस्ट आईएसआर

4.7.2 क्लॉक टेस्ट कॉन्फ़िगरेशन
LPC553x सुरक्षा पुस्तकालय पूर्व में क्लॉक टेस्ट के लिए दो स्वतंत्र घड़ियों की आवश्यकता होती हैampले परियोजना:

• SYSTICK टाइमर PLL0 150 M (बाहरी 16 MHz क्रिस्टल से प्राप्त) से लिया गया है
• CTIMER0 टाइमर आंतरिक FRO_96M से लिया गया है

सिस्टिक और CTIMER0 के विस्तृत विन्यास नीचे दिखाए गए हैं:

• सिस्टिक कॉन्फ़िगरेशन: SystickISR_Freq = 1000 Hz, 150,000 मेगाहर्ट्ज कोर क्लॉक के तहत 150 रीलोड मान सेट करके
• CTIMER कॉन्फ़िगरेशन: CTIMER_Freq = 96 MHz, 96 MHz FRO_96M क्लॉक से प्राप्त
• अपेक्षित CTIMER काउंटर CTIMER _Freq/SystickISR_Freq = 96 MHz / 1000 = 96,000 होना चाहिए
• प्रत्येक सिस्टिक इंटरप्ट ISR में, CTIMER काउंटर वैल्यू को सेव करें
• रनटाइम में जबकि (1) लूप, जांचें: (96,000 - 20%) < CTIMER उम्मीद काउंटर <(96,000 + 20%)

क्लॉक टेस्ट का कॉन्फ़िगरेशन Safety_config.h में है।
वास्तविक अनुप्रयोग के अनुसार, आप REF_TIMER_USED मैक्रो को कॉन्फ़िगर करके सुरक्षा घड़ी परीक्षण के CTIMER उदाहरण को बदल सकते हैं। साथ ही, आपको वास्तविक घड़ी आवृत्ति के अनुसार REF_TIMER_CLOCK_FREQUENCY को कॉन्फ़िगर करना होगा। 4.8 डिजिटल I/O परीक्षण
4.8.1 डिजिटल I/O परीक्षण विवरण
LPC553x सुरक्षा पुस्तकालय पूर्व मेंample परियोजना, LPC1-EVK पर GPIO P4_1 और P17_5536 को सुरक्षा डिजिटल I/O परीक्षण के लिए चुना गया है, ये दो पिन LPC10x EVK बोर्ड पर J553 हेडर से जुड़े हैं।
डिजिटल I/O टेस्ट रूटीन को दो मुख्य प्रक्रियाओं में विभाजित किया गया है: प्री-रन वन टाइम सेफ्टी टेस्ट और रनटाइम पीरियोडिकल सेफ्टी टेस्ट

• प्री-रन वन टाइम सेफ्टी टेस्ट
  - सेफ्टीडिजिटलआउटपुटटेस्ट
  - सेफ्टीडिजिटलइनपुटआउटपुट_शॉर्टसप्लाईटेस्ट
  - सेफ्टीडिजिटलइनपुटआउटपुट_शॉर्टएडजटेस्ट
• रनटाइम आवधिक सुरक्षा परीक्षण
  - सेफ्टीडिजिटलआउटपुटटेस्ट
  - सेफ्टीडिजिटलइनपुटआउटपुट_शॉर्टसप्लाईटेस्ट

4.8.2 डिजिटल I/O परीक्षण विन्यास
डिजिटल I/O टेस्ट का कॉन्फिगरेशन सेफ्टी_टेस्ट_आइटम्स.सी में है।डिजिटल I/O परीक्षणों का निष्पादन अंतिम एप्लिकेशन के अनुकूल होना चाहिए। हार्डवेयर कनेक्शन और डिज़ाइन से सावधान रहें। आप सुरक्षा के लिए GPIO को बदल सकते हैं
सुरक्षा_test_items.c में dio_safety_test_items[] को कॉन्फ़िगर करके डिजिटल I/O परीक्षण। ज्यादातर मामलों में, परीक्षण (और कभी-कभी सहायक भी) पिन को एप्लिकेशन चलाने के दौरान पुन: कॉन्फ़िगर किया जाना चाहिए। डिजिटल I/O परीक्षण के लिए अप्रयुक्त पिनों का उपयोग करने की अनुशंसा की जाती है।
4.9 एनालॉग I/O परीक्षण
4.9.1 एनालॉग I/O परीक्षण विवरण
LPC553x सुरक्षा पुस्तकालय पूर्व मेंample प्रोजेक्ट, P0_16/ADC0IN3B, P0_31/ADC0IN8A, और P0_15/ADC0IN3A LPC5536-EVK पर सुरक्षा एनालॉग I/O परीक्षण के लिए चुने गए हैं, क्योंकि MCU LPC5536 पर ADC मॉड्यूल VREFH, VREFL को आंतरिक रूप से ADC से कनेक्ट करने की अनुमति नहीं देता है इनपुट। उपयोगकर्ता के लिए इन संकेतों (एनालॉग I/O परीक्षण के लिए) को उड़ने वाले तारों से जोड़ना आवश्यक है जैसा कि नीचे दिखाया गया है।

• ADC VREFL टेस्ट के लिए GND P0_16/ADC0IN3B (J9-5) से जुड़ा है
• 3.3 V ADC VREFH टेस्ट के लिए P0_31/ADC0IN8A (J9-31) से जुड़ा है
• एडीसी बैंडगैप टेस्ट के लिए 1.65 वी P0_15/ADC0IN3A (J9-1) से जुड़ा है

एनालॉग I/O टेस्ट रूटीन को दो मुख्य प्रक्रियाओं में विभाजित किया गया है:

• प्री-रन वन टाइम सेफ्टी टेस्ट
  - सुरक्षा एनालॉग टेस्ट
• रनटाइम आवधिक सुरक्षा परीक्षण
  - सुरक्षा एनालॉग टेस्ट

4.9.2 एनालॉग I/O टेस्ट कॉन्फ़िगरेशन
एनालॉग I/O परीक्षणों का निष्पादन अंतिम आवेदन के अनुकूल होना चाहिए। हार्डवेयर कनेक्शन और डिज़ाइन से सावधान रहें। आप FS_CFG_AIO_CHANNELS_INIT को कॉन्फ़िगर करके सुरक्षा अनुरूप I/O परीक्षण के लिए ADC चैनल बदल सकते हैं और
सुरक्षा_config.h में FS_CFG_AIO_CHANNELS_SIDE_INIT।

• FS_CFG_AIO_CHANNELS_INIT ADC चैनल नंबर इंगित करता है।
• FS_CFG_AIO_CHANNELS_SIDE_INIT ADC चैनल साइड इंगित करता है।

जैसा कि ऊपर चित्र में दिखाया गया है:

• पहला तत्व ADC VREFL परीक्षण से मेल खाता है
• दूसरा तत्व ADC VREFH परीक्षण से मेल खाता है
• तीसरा तत्व एडीसी बैंडगैप टेस्ट से मेल खाता है

उदाहरणार्थample, "3" में FS_CFG_AIO_CHANNELS_INIT और "1" में
FS_CFG_AIO_CHANNELS_SIDE_INIT इंगित करता है कि ADC0 चैनल 3 साइड B ADC VREFL परीक्षण के लिए चुना गया है।
4.10 प्रहरी परीक्षण
4.10.1 निगरानी परीक्षण विवरण
वॉचडॉग परीक्षण सीधे IEC60730 - अनुलग्नक H तालिका में निर्दिष्ट नहीं है, हालांकि, यह IEC 60730-1, IEC 60335, UL 60730, और UL 1998 मानकों के अनुसार सुरक्षा आवश्यकताओं को आंशिक रूप से पूरा करता है।
प्रहरी परीक्षण प्रहरी टाइमर कार्यक्षमता का परीक्षण प्रदान करता है। रीसेट के बाद केवल एक बार परीक्षण चलाया जाता है। परीक्षण WDOG रीसेट का कारण बनता है और WDOG रीसेट के लिए पूर्व निर्धारित समय की वास्तविक समय से तुलना करता है।LPC553x सुरक्षा पुस्तकालय पूर्व मेंample प्रोजेक्ट में, वॉचडॉग का परीक्षण निम्न चरणों का उपयोग करके किया जाता है:

1. रीसेट के बाद, वॉचडॉग को सक्षम करें और वॉचडॉग रीसेट एमसीयू को ट्रिगर करने के उद्देश्य से ताज़ा करना बंद करें।
2. वॉचडॉग टाइमआउट और रीसेट करने में कितना समय लगता है, यह मापने के लिए CTIMER0 सक्षम करें।
3. वॉचडॉग रीसेट के बाद, PMC->AOREG1 रजिस्टर चेक करके पुष्टि करें कि यह रीसेट वॉचडॉग के कारण हुआ है।
4. वॉचडॉग टाइमआउट और रीसेट का सही समय जानने के लिए CTIMER0 पढ़ें।

संशोधन इतिहास

नीचे दी गई तालिका इस दस्तावेज़ के संशोधनों को सारांशित करती है।
तालिका 3. संशोधन इतिहास

पुनरीक्षण अंक	तारीख	मूल परिवर्तन
0	4-जनवरी-23	प्रारंभिक सार्वजनिक रिलीज

कानूनी जानकारी

6.1 परिभाषाएँ
ड्राफ्ट - किसी दस्तावेज़ पर ड्राफ्ट स्थिति यह इंगित करती है कि सामग्री अभी भी आंतरिक नियंत्रण में हैview और औपचारिक स्वीकृति के अधीन, जिसके परिणामस्वरूप संशोधन या परिवर्धन हो सकते हैं। एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स किसी दस्तावेज़ के ड्राफ्ट संस्करण में शामिल जानकारी की सटीकता या पूर्णता के बारे में कोई प्रतिनिधित्व या वारंटी नहीं देता है और ऐसी जानकारी के उपयोग के परिणामों के लिए कोई दायित्व नहीं होगा।
6.2 अस्वीकरण
सीमित वारंटी और दायित्व — इस दस्तावेज़ में दी गई जानकारी को सटीक और विश्वसनीय माना जाता है। हालांकि, एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स ऐसी जानकारी की सटीकता या पूर्णता के रूप में व्यक्त या निहित कोई प्रतिनिधित्व या वारंटी नहीं देते हैं और ऐसी जानकारी के उपयोग के परिणामों के लिए कोई दायित्व नहीं होगा। एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स के बाहर किसी सूचना स्रोत द्वारा प्रदान किए जाने पर एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स इस दस्तावेज़ में सामग्री के लिए कोई ज़िम्मेदारी नहीं लेते हैं।
किसी भी घटना में एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स किसी भी अप्रत्यक्ष, आकस्मिक, दंडात्मक, विशेष या परिणामी नुकसान के लिए उत्तरदायी नहीं होंगे (जिसमें - बिना सीमा के खोए हुए लाभ, खोई हुई बचत, व्यवसाय में रुकावट, किसी भी उत्पाद को हटाने या बदलने से संबंधित लागत या फिर से काम करने का शुल्क शामिल है) चाहे या इस तरह के नुकसान यातना (लापरवाही सहित), वारंटी, अनुबंध के उल्लंघन या किसी अन्य कानूनी सिद्धांत पर आधारित नहीं हैं।
किसी भी कारण से ग्राहक को होने वाले किसी भी नुकसान के बावजूद, यहां वर्णित उत्पादों के लिए ग्राहक के प्रति एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स की कुल और संचयी देयता एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स की वाणिज्यिक बिक्री के नियमों और शर्तों के अनुसार सीमित होगी।
परिवर्तन करने का अधिकार - एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स इस दस्तावेज़ में प्रकाशित जानकारी में परिवर्तन करने का अधिकार सुरक्षित रखता है, जिसमें बिना किसी सीमा के विनिर्देशों और उत्पाद विवरण शामिल हैं, किसी भी समय और बिना किसी सूचना के। यह दस्तावेज़ इसके प्रकाशन से पहले प्रदान की गई सभी जानकारी को प्रतिस्थापित और प्रतिस्थापित करता है।
उपयोग के लिए उपयुक्तता - NXP सेमीकंडक्टर्स उत्पादों को जीवन समर्थन, जीवन-महत्वपूर्ण या सुरक्षा-महत्वपूर्ण प्रणालियों या उपकरणों में उपयोग के लिए उपयुक्त होने के लिए डिज़ाइन, अधिकृत या वारंट नहीं किया गया है, न ही उन अनुप्रयोगों में जहां NXP सेमीकंडक्टर्स उत्पाद की विफलता या खराबी के परिणामस्वरूप उचित रूप से उम्मीद की जा सकती है व्यक्तिगत चोट, मृत्यु या गंभीर संपत्ति या पर्यावरणीय क्षति। एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स और इसके आपूर्तिकर्ता ऐसे उपकरणों या अनुप्रयोगों में एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स उत्पादों के समावेश और/या उपयोग के लिए कोई दायित्व स्वीकार नहीं करते हैं और इसलिए ऐसा समावेश और/या उपयोग ग्राहक के अपने जोखिम पर है।
अनुप्रयोग - इनमें से किसी भी उत्पाद के लिए यहां बताए गए एप्लिकेशन केवल उदाहरण के लिए हैं। एनएक्सपी सेमीकंडक्टर कोई प्रतिनिधित्व या वारंटी नहीं देता है कि इस तरह के अनुप्रयोग आगे के परीक्षण या संशोधन के बिना निर्दिष्ट उपयोग के लिए उपयुक्त होंगे। ग्राहक एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स उत्पादों का उपयोग करके अपने अनुप्रयोगों और उत्पादों के डिजाइन और संचालन के लिए ज़िम्मेदार हैं, और एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स एप्लिकेशन या ग्राहक उत्पाद डिज़ाइन के साथ किसी भी सहायता के लिए कोई दायित्व स्वीकार नहीं करते हैं। यह निर्धारित करना ग्राहक की एकमात्र जिम्मेदारी है कि क्या एनएक्सपी सेमीकंडक्टर उत्पाद ग्राहक के अनुप्रयोगों और नियोजित उत्पादों के साथ-साथ नियोजित आवेदन और ग्राहक के तीसरे पक्ष के ग्राहकों के उपयोग के लिए उपयुक्त है या नहीं। ग्राहकों को जोखिमों को कम करने के लिए उपयुक्त डिजाइन और परिचालन सुरक्षा उपाय प्रदान करने चाहिए
उनके अनुप्रयोगों और उत्पादों से जुड़ा हुआ है। एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स किसी भी डिफ़ॉल्ट, क्षति, लागत या समस्या से संबंधित किसी भी दायित्व को स्वीकार नहीं करता है जो ग्राहक के अनुप्रयोगों या उत्पादों में किसी भी कमजोरी या डिफ़ॉल्ट या ग्राहक के तीसरे पक्ष के ग्राहकों द्वारा उपयोग या उपयोग पर आधारित है। ग्राहक के एप्लिकेशन और उत्पादों के लिए सभी आवश्यक परीक्षण करने के लिए ग्राहक जिम्मेदार है ताकि एप्लिकेशन और उत्पादों या एप्लिकेशन या ग्राहक के तीसरे पक्ष के ग्राहकों द्वारा उपयोग में चूक से बचा जा सके। एनएक्सपी इस संबंध मे किसी देयता को स्वीकार नहीं करता है।
वाणिज्यिक बिक्री के नियम और शर्तें - एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स उत्पादों को वाणिज्यिक बिक्री के सामान्य नियमों और शर्तों के अधीन बेचा जाता है, जैसा कि यहां प्रकाशित किया गया है http://www.nxp.com/profile/terms, जब तक अन्यथा एक वैध लिखित व्यक्तिगत समझौते में सहमति न हो। यदि एक व्यक्तिगत समझौता संपन्न होता है तो संबंधित समझौते के केवल नियम और शर्तें लागू होंगी। एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स एतद्द्वारा ग्राहक द्वारा एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स उत्पादों की खरीद के संबंध में ग्राहक के सामान्य नियमों और शर्तों को लागू करने पर स्पष्ट रूप से आपत्ति जताते हैं।
निर्यात नियंत्रण - इस दस्तावेज़ के साथ-साथ यहां वर्णित आइटम निर्यात नियंत्रण विनियमों के अधीन हो सकते हैं। निर्यात के लिए सक्षम प्राधिकारियों से पूर्व प्राधिकरण की आवश्यकता हो सकती है।
गैर-ऑटोमोटिव योग्य उत्पादों में उपयोग के लिए उपयुक्तता — जब तक यह डेटा शीट स्पष्ट रूप से यह न बताए कि यह विशिष्ट NXP सेमीकंडक्टर्स उत्पाद ऑटोमोटिव योग्य है, तब तक उत्पाद ऑटोमोटिव उपयोग के लिए उपयुक्त नहीं है। यह ऑटोमोटिव परीक्षण या अनुप्रयोग आवश्यकताओं के अनुसार न तो योग्य है और न ही परीक्षण किया गया है। एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स ऑटोमोटिव उपकरण या अनुप्रयोगों में गैर-ऑटोमोटिव योग्य उत्पादों के समावेश और/या उपयोग के लिए कोई दायित्व स्वीकार नहीं करते हैं।
यदि ग्राहक ऑटोमोटिव विशिष्टताओं और मानकों के लिए ऑटोमोटिव अनुप्रयोगों में डिज़ाइन-इन और उपयोग के लिए उत्पाद का उपयोग करता है, तो ग्राहक (ए) ऐसे ऑटोमोटिव अनुप्रयोगों, उपयोग और विनिर्देशों के लिए उत्पाद की एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स की वारंटी के बिना उत्पाद का उपयोग करेगा, और ( बी) जब भी ग्राहक एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स के विनिर्देशों से परे ऑटोमोटिव अनुप्रयोगों के लिए उत्पाद का उपयोग करता है तो ऐसा उपयोग पूरी तरह से ग्राहक के अपने जोखिम पर होगा, और (सी) ग्राहक ग्राहक डिजाइन और उपयोग के परिणामस्वरूप किसी भी देयता, क्षति या असफल उत्पाद दावों के लिए एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स की पूरी तरह से क्षतिपूर्ति करता है। एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स की मानक वारंटी और एनएक्सपी सेमीकंडक्टर्स के उत्पाद विनिर्देशों से परे ऑटोमोटिव अनुप्रयोगों के लिए उत्पाद।
अनुवाद - दस्तावेज़ का एक गैर-अंग्रेज़ी (अनुवादित) संस्करण, उस दस्तावेज़ में कानूनी जानकारी सहित, केवल संदर्भ के लिए है। अंग्रेजी संस्करण अनुवादित और अंग्रेजी संस्करणों के बीच किसी भी विसंगति के मामले में मान्य होगा।
सुरक्षा — ग्राहक समझता है कि सभी NXP उत्पाद अज्ञात कमजोरियों के अधीन हो सकते हैं या ज्ञात सीमाओं के साथ स्थापित सुरक्षा मानकों या विशिष्टताओं का समर्थन कर सकते हैं। ग्राहक के अनुप्रयोगों और उत्पादों पर इन कमजोरियों के प्रभाव को कम करने के लिए ग्राहक अपने पूरे जीवन चक्र में अपने अनुप्रयोगों और उत्पादों के डिजाइन और संचालन के लिए जिम्मेदार है। ग्राहक की जिम्मेदारी ग्राहक के अनुप्रयोगों में उपयोग के लिए एनएक्सपी उत्पादों द्वारा समर्थित अन्य खुली और/या स्वामित्व वाली प्रौद्योगिकियों तक भी फैली हुई है। एनएक्सपी किसी भी भेद्यता के लिए कोई दायित्व स्वीकार नहीं करता है। ग्राहक को नियमित रूप से एनएक्सपी से सुरक्षा अद्यतनों की जांच करनी चाहिए और उचित रूप से अनुवर्ती कार्रवाई करनी चाहिए।
ग्राहक सुरक्षा सुविधाओं वाले उत्पादों का चयन करेगा जो इच्छित आवेदन के नियमों, विनियमों और मानकों को सर्वोत्तम रूप से पूरा करते हैं और अपने उत्पादों के संबंध में अंतिम डिजाइन निर्णय लेते हैं और अपने उत्पादों से संबंधित सभी कानूनी, नियामक और सुरक्षा संबंधी आवश्यकताओं के अनुपालन के लिए पूरी तरह जिम्मेदार हैं, भले ही एनएक्सपी द्वारा प्रदान की जा सकने वाली किसी भी जानकारी या समर्थन की।
NXP के पास उत्पाद सुरक्षा घटना प्रतिक्रिया टीम (PSIRT) है (इस पर पहुंचा जा सकता है पीएसआईआरटी@nxp.com) जो NXP उत्पादों की सुरक्षा कमजोरियों की जांच, रिपोर्टिंग और समाधान जारी करने का प्रबंधन करता है।
6.3 ट्रेडमार्क
सूचना: सभी संदर्भित ब्रांड, उत्पाद नाम, सेवा नाम और ट्रेडमार्क उनके संबंधित स्वामियों की संपत्ति हैं।
एनएक्सपी - वर्डमार्क और लोगो एनएक्सपी बीवी के ट्रेडमार्क हैं
AMBA, आर्म, आर्म7, आर्म7TDMI, आर्म9, आर्म11, आर्टिसन, बिग.लिटल, कॉर्डियो, कोरलिंक, कोरसाइट, कोर्टेक्स, डिजाइनस्टार्ट, डायनेमिक, जैजेल, कील, माली, एमबेड, एमबीड इनेबल्ड, नियॉन, पीओपी, रियलView, SecurCore, Socrates, Thumb, TrustZone, ULINK, ULINK2, ULINK-ME, ULINK-PLUS, ULINKpro, μVision, Versatile — यूएस और/या अन्य जगहों पर आर्म लिमिटेड (या इसकी सहायक कंपनियों) के ट्रेडमार्क या पंजीकृत ट्रेडमार्क हैं। संबंधित तकनीक को किसी या सभी पेटेंट, कॉपीराइट, डिजाइन और व्यापार रहस्य द्वारा संरक्षित किया जा सकता है। सर्वाधिकार सुरक्षित।
कृपया ध्यान रखें कि इस दस्तावेज़ और इसमें वर्णित उत्पाद(ओं) से संबंधित महत्वपूर्ण सूचनाएं 'कानूनी जानकारी' अनुभाग में शामिल की गई हैं।

© 2023 एनएक्सपी बीवी
और अधिक जानकारी के लिए कृपया विजिट करें: http://www.nxp.com
सर्वाधिकार सुरक्षित।
रिलीज की तारीख: 4 जनवरी 2023
दस्तावेज़ पहचानकर्ता: AN13823

दस्तावेज़ / संसाधन

एलपीसी13823x एमसीयू के लिए एनएक्सपी एएन60730 आईईसी 553 क्लास बी सॉफ्टवेयर [पीडीएफ] उपयोगकर्ता गाइड LPC13823x MCUs के लिए AN60730 IEC 553 क्लास B सॉफ़्टवेयर, LPC13823x MCUs के लिए AN60730, IEC 553 क्लास B सॉफ़्टवेयर, AN13823 IEC 60730 क्लास B सॉफ़्टवेयर

संदर्भ

• उपयोगकर्ता पुस्तिका